OPTACOM轮廓粗糙度仪测量原理为直角坐标测量法，即通过X轴、Z1轴传感器，测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点，通过电器组件，将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机，软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理，标注所需的工程测量项目。
OPTACOM轮廓粗糙度仪采用金刚石测针与被测件接触扫描，实现被测件表面的坐标轨迹测量，获得原始数据，利用弹性支承结构和电感式传感器、自编的专用软件、微电子技术通过计算机最终实现数据采集、数据计算、操作控制、综合分析、计算、处理，达到粗糙度和轮廓形状的相关参数测定，对测定结果进行数据和图像显示、存储、打印输出和发送。
OPTACOM轮廓粗糙度仪采用光机电算结合达到驱动箱上下有控自动移动，触针可根据与被测件的接近程度快速和慢速变化左右移动速度实现接触定位，按程序操作保证触针不受冲击伤害。
OPTACOM轮廓粗糙度仪检测校正流程：
1.在粗糙度测量画面中，单击菜单的“校正”并选择其中的“校正”，按校正步骤进行校正。
2.选择探针为“通常使用的探针”→选择校正方法为“利用标准片校正”→校正条件的标准值设定为标准片上的值3.21um，校正倍率选±128um→将标准片放置在水平调整台上→执行校正测量条件的设定：单击“编辑”，选择“基本条件”，测量速度选0.300mm/s，移动返回速度6.000mm/s，测量长度5λ，单击滤波器，勾选“使λs有效”，“比”设300，波长设0.8mm，单击去除形状，选择小二乘直线，确定并执行测量。
3.移动测针至下图位置，点击测量，将测量值与标准块标识的值进行对比，差值在±5%之内即为测针可用。如果大于±5%，需分析测量出的曲线图（纵横放大倍率分别为2万和2千倍），观察波峰波、谷是否清楚，波峰是否尖锐，否则表示测针磨损或损坏。