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Lamtech平面度测量仪的用法是平晶干涉法

  Lamtech平面度测量仪广泛用于测量导轨的直线性、精密平板的平面度、基面之间的垂直度和平行度、精密轴系的晃动误差等;同时还可以来测量各种棱镜的角度差和平镜的平行差以及测量检验各种棱镜、平镜与装配基准面之间的角度误差。该仪器主要用于小角度的精密测量,如多面棱体的检定。也可测量高精度导轨等精密零件的直线性、平行性、垂直性及相对位置。
  Lamtech平面度测量仪的用法是平晶干涉法,用光学平晶的工作面体现理想平面,直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值,但主要于测量光洁的小平面的测量,如千分头测量面,量规的工作面,光学透镜。激光干涉仪现因其体积小,重量轻、无需外接电源的特点被广泛地应用在光学加工企业,光学检测机构以及其他要进行光学表面检测的场合。在机械行业和仪表制造中,用于测量相对于水平位置的倾斜角、机床类设备导轨的平面度和直线度、设备安装的水平位置和垂直位置等。按水平仪的外形不同可分为:框式水平仪和尺式水平仪两种;按水准器的固定方式又可分为:可调式水平仪和不可调式水平仪。
  Lamtech平面度测量仪打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上,以标准平板作为测量基准面,用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。打表测量法按评定基准面分为三点法和对角线法:三点法是用被测实际表面上相距最远的三点所决定的理想平面作为评定基准面,实测时先将被测实际表面上相距最远的三点调整到与标准平板等高;对角线法实测时先将实际表面上的四个角点按对角线调整到两两等高。然后用测微计进行测量,测微计在整个实际表面上测得的最大变动量即为该实际表面的平面度误差。
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