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薄膜测厚仪

薄膜测厚仪

简要描述:

瑞士SYLVAC薄膜测厚仪用于测量较软或较硬材料薄膜厚度,根据测量材料可选择不同测力范围满足不同测量任务需求。低测力可达0.06N,高分辨率0.01μm。

产品时间:2020-06-30

瑞士SYLVAC薄膜测厚仪用于测量较软或较硬材料薄膜厚度,根据测量材料可选择不同测力范围满足不同测量任务需求。低测力可达0.06N,高分辨率0.01μm。

 

适用于电子行业,光伏行业,医疗行业,新能源汽车行业,锂电池行业用于测量薄膜厚度,具有精度高,测量效率快的特点。

而且这款薄膜测厚仪可实现数据传输,支持数据导入导出,很方便的将数据进行采集及分析,可追溯性强,满足车间现场已经实验室对于薄膜的测量需求。

 

薄膜测厚仪

分辨率:0.1μm

测力:0.3-1.3N(根据需要选择)

薄膜测厚仪

分辨率:1μm

测力:0.4-1.6N(根据需要选择)

薄膜测厚仪

 

 

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